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實(shí)驗(yàn)室設(shè)備 JH60D永磁體霍爾效應(yīng)測(cè)試儀 霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性*的工具。

錦正茂實(shí)驗(yàn)室儀器D30室溫探針臺(tái) 錦正茂D30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是*用的，探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。

JH60A霍爾效應(yīng)測(cè)試儀-電磁鐵型 該儀器為性能穩(wěn)定、功能強(qiáng)大、性價(jià)比高的霍爾效應(yīng)儀,在國(guó)內(nèi)高校、研究所及半導(dǎo)體業(yè)界擁有廣泛的用戶和度。

錦正茂行業(yè)儀器高低溫真空探針臺(tái) 錦正茂高低溫真空探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。